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三箱氣體式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

更新時(shí)間:2024-11-07
型號(hào):
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):1908
三箱氣體式冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于自動(dòng)化零部件、電子電器零組件、汽車(chē)配件、通訊組件、化學(xué)材料、金屬、塑料行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料經(jīng)對(duì)冷、熱溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量。
  • 詳細(xì)內(nèi)容
品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間20萬(wàn)-50萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域石油,電子,航天,汽車(chē),電氣

三箱氣體式冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于自動(dòng)化零部件、電子電器零組件、汽車(chē)配件、通訊組件、化學(xué)材料、金屬、塑料行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料經(jīng)對(duì)冷、熱溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量。

三箱氣體式冷熱沖擊試驗(yàn)箱參數(shù)可選擇如下:

實(shí)驗(yàn)箱沖擊溫度:高溫 +60150℃(固定)

低溫 A(-10-40℃) B(-10-55℃)D( -10-65℃)(可選擇其中一個(gè)低溫配高溫)

高溫儲(chǔ)箱高溫范圍可達(dá)+60 ~200℃.

低溫儲(chǔ)箱低溫范圍可達(dá)-10℃~-75

高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤10S

風(fēng)門(mén)啟動(dòng)時(shí)間:3S

高低溫恢復(fù)時(shí)間:3~5min(非線(xiàn)性空載下)

預(yù)冷區(qū)降溫速度: ≥2℃/min(非線(xiàn)性)

預(yù)熱區(qū)升溫速度: ≥3℃/min(非線(xiàn)性)

控制精度:溫度±0.2℃(指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差)

溫度波動(dòng)度:≤0.5℃(溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測(cè)高溫度和低溫度之差的一半)

溫度均勻度:≤2.0℃(溫度均勻度為每次測(cè)試中實(shí)測(cè)高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值)

控制器采用*微彩色計(jì)算機(jī)液晶顯示觸控式控制器OYO9226S120 程度,3個(gè)段. 每一個(gè)命令可達(dá)999; 程式段時(shí)間設(shè)定099Hour59Min

執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法;

2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法;

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);

4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);

5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);

6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。

曲線(xiàn)、數(shù)據(jù)的儲(chǔ)存及處理:

1、標(biāo)配USB2.0接口,儲(chǔ)存讀取數(shù)據(jù)及曲線(xiàn)并下載到電腦查看分析儲(chǔ)存。

2、標(biāo)配RS-232C 通訊界面,可雙向操控機(jī)器及電腦硬盤(pán)儲(chǔ)存資料。

3、以60秒采樣計(jì)算可記錄120天歷史數(shù)據(jù)及曲線(xiàn)功能。

4、采樣速率可以由3秒鐘到一小時(shí)任意設(shè)定。

5、可通過(guò)因特網(wǎng)遠(yuǎn)距離監(jiān)控機(jī)器運(yùn)行情況,及遠(yuǎn)程操控機(jī)器(選購(gòu))。


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